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Modelldiagnose in der Bayesschen Inferenz
ISBN/GTIN

Modelldiagnose in der Bayesschen Inferenz

Dissertationsschrift
HardcoverKartoniert, Paperback
Verkaufsrang16198inMathematik
EUR45,95

Beschreibung

Die Modelldiagnose in der linearen Regression und anderen statistischen Modellen entwickelt sich zu einem wirkungsvollen Instrument der Statistik mit originellen Ideen und Maßen. Der Sensitivitätsanalyse der klassischen Inferenz stellt der Autor Bayessche Ansätze gegenüber. Behandelt werden die Regressionsdiagnose, Diagnose in MCMC-Modellen und allgemeine Probleme der Modelldiagnose. Im Mittelpunkt der neuen Forschungsergebnisse stehen Bayessche Ausreißertests und fortgeschrittene Ausreißermodelle.
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Details

ISBN/EAN/Artikel978-3-631-34610-5
ProduktartHardcover
EinbandKartoniert, Paperback
Erschienen am01.05.1999
AuflageNeuausg.
ReiheAnwendungsorientierte Statistik .4
Reihen-Nr..4
Seiten149 Seiten
SpracheDeutsch
Artikel-Nr.13264234
KatalogZeitfracht
Datenquelle-Nr.183138258
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Reihe

Autor

Der Autor: Reinhard Vonthein wurde 1966 in Hamburg geboren. 1986 begann er mit dem Studium der Statistik an der Universität München. Nach dem Diplom 1993 folgte eine Anstellung an der Universität Basel. Promotion 1998.